Die APT-1400F ist atemberaubend, Überzeugen Sie sich selbst!
Die TAKAYA APT-1400F ist als einseitiges Testsystem das Einstiegsmodell der APT-Serie und es setzt im Wettbewerb neue Maßstäbe in Geschwindigkeit und Testabdeckung. Das System ist speziell für den Test von komplexen Baugruppen und großen Stückzahlen entwickelt worden.
Die APT-1400F verfügt über 6 Flying Probes, davon sind 2 Proben vertikal angebracht, welche Zugriffe auf Kontaktpunkte ermöglichen, die bisher nicht erreichbar waren. Das System ist als Standalone- und In-Line System erhältlich.
Die APT-1400F kennt keine Kompromisse zwischen Geschwindigkeit, Zuverlässigkeit und einer langen Lebensdauer. Das Design des XY Tisches wurde komplett überarbeitet und der hohen Verfahrgeschwindigkeit der Prüfnadeln, sowie der neuen mechanischen Konstruktion der Achsen, optimal angepasst. Eine herausragende Messeinheit und zahlreiche innovative Testalgorithmen ermöglichen eine deutliche Steigerung der Testabdeckung auf Ihren Baugruppen.
Die Highlights der APT-1400F:
- Einzigartige Mechanik mit 4 Köpfen & 6 Flying Probes
- Ultraschnelle XYZ-Motoren und Steuerungen
- 50% schneller als herkömmliche Flying Probe Testsysteme
- 25% genauer, kleinste Kontaktfläche 60µm
- Neues Design der Achsen und des XY-Tisches aus Granit
- Hochflexible „Composite Robot“ Longlife Mess- und Steuerleitungen
- Soft Touch Control
- Messelektronik direkt auf den Prüfköpfen
- Neuentwickelte flexible Baugruppenaufnahme
- Transportsystem mit automatischer Breitenverstellung und SMEMA Schnittstelle
- High Density CCD Farbkamera
- 2 x LED Ringlichtbeleuchtungen
- Positionskorrektur (Versatz, Verdrehung, Schrumpfung)
- Erkennung von verpolten, fehlenden, versetzten oder falschen Bauteilen
- 1D und 2 D Barcodeerkennung
- Optical Character Recognition (OCR)
- Farberkennung von Bauteilen
- Color Real Map Funktion zur grafischen Ansicht der Baugruppen und der Kontaktpunkte
- 16 Bit DAC/ADC Messeinrichtung inkl. 3 x DC 4-Quadranten Spannungsversorgungen
- R, L, C Messungen
- Messspannung < 0,1V
- Kelvin Messungen
- Guardfunktionen
- Dioden & Zenerdioden Messfunktionen
- Transistoren/FET/Optokoppler/Relais/etc.
- DC/AC Strom- und Spannungsmessungen
- Spannungsregler/Operationsverstärker/Transformatoren
- Kennlinienmessungen von Bauteilen und Schaltungen
- Isolationsmessungen
- Durchgangsmessungen
- Frequenzmessungen
- AC Signalgenerator
- Cluster Tests
- IC Open Sensor
- LED Tests (Farbe und Intensität)
- Integration externer Spannungsversorgungen und Prüfsysteme (Boundary Scan, In System Programmierung, etc.)