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Doppelseitiger Flying Probe Tester: SYSTECH Europe zeigt APT-2600FD auf der EFX 2026

Wir präsentieren vom 6. bis 8. Oktober 2026 auf der EFX in Stuttgart den doppelseitigen Flying Probe Tester APT-2600FD von TAKAYA. Am Stand 9A70 können sich Fachbesucher über die technischen Möglichkeiten des Systems informieren und gemeinsam mit den Flying-Probe-Experten konkrete Prüfanforderungen für Entwicklung, Prototyping und Serienfertigung diskutieren.

Mit dem APT-2600FD stellen wir ein System für anspruchsvolle Prüfaufgaben in der modernen Elektronikfertigung in den Mittelpunkt unseres Messeauftritts. Im Fokus stehen dabei unter anderem die Reduzierung von Prüfkosten, eine hohe Testabdeckung sowie die flexible Anpassung der Prüfprozesse an unterschiedliche Baugruppen und Produktionsanforderungen.

„Mit der APT-2600FD zeigen wir auf der EFX ein System für anspruchsvolle Prüfaufgaben in der modernen Elektronikfertigung. Das neue Messeformat bietet uns die Gelegenheit, die Technologie nicht nur zu präsentieren, sondern mit den Fachbesuchern über ihre konkreten Anforderungen zu sprechen. Dabei geht es insbesondere um die Frage, wie sich Prüfkosten senken, die Testabdeckung erhöhen und Prüfprozesse flexibler an unterschiedliche Baugruppen und Produktionsanforderungen anpassen lassen. Dieser direkte fachliche Austausch ist für uns ein wesentlicher Bestandteil unseres Messeauftritts“.

Jörg Lewandowski, Geschäftsführer von SYSTECH Europe.

APT-2600FD prüft Baugruppen gleichzeitig von beiden Seiten

Der TAKAYA APT-2600FD ist das doppelseitige Modell der APT-Serie. Auf der Oberseite arbeitet das System mit vier Messköpfen und sechs Prüfnadeln, auf der Unterseite mit zwei Messköpfen und vier Prüfnadeln.

Dadurch können Baugruppen gleichzeitig von beiden Seiten kontaktiert werden. Ein separater Wendevorgang entfällt. Dies kann Prüfabläufe verkürzen und ermöglicht gleichzeitig eine hohe Testabdeckung und Prüftiefe.

Das Multiprobe-System erlaubt zudem die parallele Kontaktierung mehrerer Prüfpunkte. Auf diese Weise können zusätzliche Prüfverfahren wie Boundary Scan Tests oder In-System Programming in den Testablauf eingebunden werden. Über diese Vorrichtung lassen sich kundenspezifischer Nadelbettadapter einsetzen.

Neben In-Circuit-Tests unterstützt das System komplexe Funktionstests. 16-Bit-Messtechnik, 4-Quadranten-Spannungsversorgungen sowie ein programmierbarer AC-Signalgenerator erweitern die Möglichkeiten, mit denen sich unterschiedliche elektrische Prüfbedingungen nachstellen lassen.

Präzise Kontaktierung bei hohen Packungsdichten

Mit zunehmender Miniaturisierung elektronischer Baugruppen steigen auch die Anforderungen an die zuverlässige Kontaktierung kleiner oder schwer zugänglicher Prüfpunkte.

Der APT-2600FD ist für Kontaktflächen bis zu 50 µm ausgelegt und nutzt die TAKAYA „Zero Impact“-Technologie. Dabei wird die Geschwindigkeit der Prüfnadel unmittelbar vor dem Kontakt bis auf null reduziert. Die eigentliche Kontaktierung erfolgt anschließend durch die Federkraft der Nadel. Dadurch lässt sich die mechanische Belastung am Kontaktpunkt reduzieren.

Diese Form der Kontaktierung ist insbesondere bei dicht bestückten und miniaturisierten Baugruppen relevant, bei denen kleine Testpunkte zuverlässig erreicht werden müssen.

Mehr Informationen zur APT-2600FD finden Sie hier

Elektrische, optische und thermische Prüfungen kombinieren

Die elektrische Prüftechnik des APT-2600FD wird durch optische und weitere messtechnische Funktionen ergänzt.

CMOS-Farbkameras mit Flüssiglinse, Autofokus, OCR und 3D-Real-Map unterstützen die Erfassung und Auswertung der Baugruppen. Für temperaturabhängige Bauteile und Halbleiter stehen Temperatursensoren zur Verfügung.

Auch LEDs können messtechnisch erfasst werden. Dies umfasst Anwendungen im sichtbaren Bereich sowie im UV- und IR-Spektrum. Eine zusätzliche Remote-Kamera ermöglicht die Überwachung laufender Prüfprozesse und unterstützt das Remote-Debugging.

Damit lassen sich unterschiedliche elektrische, optische und thermische Prüfanforderungen innerhalb einer Prüfstrategie berücksichtigen.

Flexible Prüfstrategien für Entwicklung und Serienfertigung

Neben der Präsentation des Flying Probe Testers steht auf der EFX die Beratung zu konkreten Prüfaufgaben im Mittelpunkt. Dazu gehören unter anderem Fragen zur erreichbaren Testabdeckung, zu Prüfzeiten sowie zur Kombination verschiedener elektrischer und optischer Testverfahren.

Wir berücksichtigen dabei sowohl Anwendungen aus Entwicklung und Prototyping als auch Anforderungen der Serienfertigung.

Unser Team verfügt über langjährige Erfahrung mit TAKAYA Flying Probe Systemen und begleitet Anwender von der Auswahl und Projektierung über die Prüfprogrammerstellung und Inbetriebnahme bis hin zu Schulung und Service. Auch die Integration der Testsysteme in bestehende Produktionsumgebungen kann am Messestand besprochen werden.

Adapterlose Flying Probe Prüfung für wechselnde Baugruppen

Besonders bei einer hohen Variantenvielfalt und häufig wechselnden Baugruppen bietet die adapterlose Flying Probe Prüfung eine flexible Möglichkeit, Prüfprozesse an unterschiedliche Produktvarianten anzupassen.

Da für die Flying Probe Prüfung kein klassischer Nadelbettadapter erforderlich ist, können Änderungen an einer Baugruppe oder neue Varianten über das Prüfprogramm berücksichtigt werden. Dies ist insbesondere für Produktionsumgebungen relevant, in denen unterschiedliche Produkte oder Produktgenerationen geprüft werden müssen.

APT-2600FD auf der EFX 2026 erleben

Wir präsentieren den TAKAYA Flying Probe Tester APT-2600FD vom 6. bis 8. Oktober 2026 auf der EFX in Stuttgart am Stand 9A70.

Fachbesucher können sich dort über die technischen Möglichkeiten des doppelseitigen Prüfsystems informieren und konkrete Anforderungen an Testabdeckung, Prüfzeiten, Prüfverfahren und die Integration in bestehende Produktionsumgebungen mit unseren Experten besprechen.

Mehr Informationen zu den TAKAYA Flying Probe Testern finden Sie hier

Häufig gestellte Fragen

Der APT-2600FD ist ein doppelseitiger Flying Probe Tester für die Prüfung elektronischer Baugruppen. Er verfügt über vier Messköpfe und sechs Prüfnadeln auf der Oberseite sowie zwei Messköpfe und vier Prüfnadeln auf der Unterseite und kann Baugruppen gleichzeitig von beiden Seiten kontaktieren.

Der APT-2600FD unterstützt unter anderem In-Circuit- und Funktionstests. Darüber hinaus lassen sich beispielsweise Boundary Scan Tests und In-System Programming integrieren. Optische Prüfungen, Temperaturmessungen sowie LED-Messungen einschließlich UV- und IR-Anwendungen ergänzen die elektrischen Prüfverfahren.

Durch die gleichzeitige Kontaktierung von Ober- und Unterseite kann ein separater Wendevorgang der Baugruppe entfallen. Dadurch lassen sich Prüfabläufe verkürzen sowie Testabdeckung und Prüftiefe erhöhen. Da kein klassischer Nadelbettadapter erforderlich ist, können zudem unterschiedliche Baugruppenvarianten über das Prüfprogramm berücksichtigt werden.

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