Die SYSTECH Europe präsentiert eine neue Generation leistungsstarker Flying Probe Tester von TAKAYA. Mit den Modellen APT-2400F und APT-2600FD werden moderne Anforderungen der Elektronikfertigung gezielt adressiert, insbesondere bei hochkomplexen und miniaturisierten Baugruppen.
Flying Probe Tester mit modularer Mechanik für maximale Prüfabdeckung
Die neuen Flying Probe Tester von TAKAYA basieren auf einem mechanischen Konzept mit sechs Achsen und bis zu zehn Prüfnadeln. Vier vertikal angeordnete Nadeln ermöglichen den Zugriff auf schwer erreichbare Kontaktpunkte, etwa zwischen dicht bestückten Komponenten oder an Steckverbindern.
Diese Bauweise erhöht die Testabdeckung deutlich und verbessert die Qualitätssicherung komplexer Leiterplatten.
APT-2400F: Flying Probe Tester für hochdichte Layouts
Der TAKAYA APT-2400F Flying Probe Tester ist für einseitige Prüfprozesse ausgelegt und arbeitet mit vier Achsen sowie sechs Prüfnadeln. Mit einer minimalen Kontaktfläche von nur 50 µm lassen sich auch hochdichte HDI-Leiterplatten zuverlässig prüfen.
Kernmerkmale der APT-2400F:
- Präzise Kontaktierung kleinster Strukturen
- Optimiert für kompakte Baugruppen
- Flexible Einsatzmöglichkeiten in Entwicklung und Produktion
Mehr Informationen zur APT-2400F finden Sie hier: https://www.systech-europe.de/products/flying-probe-tester/APT-2400F
TAKAYA APT-2600FD: Flying Probe Tester für komplexe Prüfanforderungen
Für komplexere Prüfanforderungen bieten die Systeme, insbesondere der beidseitige Tester
APT-2600FD, erweiterte Funktionen. Die beidseitige Prüfung spart Zeit, da der Wendevorgang entfällt, erweitert die Testabdeckung und erhöht die Prüftiefe. Das Multiprobe System erlaubt den gleichzeitigen Kontakt mit mehreren Prüfpunkten auf der Unterseite und unterstützt damit die Integration von In-System Programming (ISP). Ein Laser misst die Oberflächenhöhe von Leiterplatten und Bauteilen, erleichtert die Erkennung von Defekten wie angehobenen Bauteilen, und das System passt Koordinaten automatisch an Leiterplattenverformungen an, um Prüfstabilität trotz mechanischer Toleranzen sicherzustellen.
Mehr Informationen zur APT-2600FD finden Sie hier: https://www.systech-europe.de/products/flying-probe-tester/APT-2600FD
Schonende Kontaktierung und moderne Bildverarbeitung
Die neuen Systeme sind mit der „Zero-Impact Probe Control“ ausgestattet. Diese Steuerung reduziert die Geschwindigkeit der Prüfnadeln unmittelbar vor dem Kontakt auf Null und ermöglicht so eine Kontaktierung ausschließlich über den Federdruck der Messnadeln. Dadurch wird eine besonders schonende und präzise Prüfung selbst empfindlichster Bauteile gewährleistet.
Zudem verfügen die Systeme über modernste Kameratechnologie. Das integrierte CMOS-Kamerasystem mit Flüssiglinse unterstützt Autofokus, 3D-Real-Map-Visualisierung sowie OCR. Eine separate Remote-Kamera überwacht die Prüfprozesse in der Fertigung und ermöglicht Remote-Debugging. Zum Testspektrum zählen optische Verfahren wie OCR, Barcode- und Bauteilerkennung sowie Polarisationsprüfung. Ein spezieller LED-Farbsensor analysiert zuverlässig Farbton, Sättigung und Leuchtdichte.
Erweiterte elektrische Testmöglichkeiten
Die Flying Probe Tester der APT-Serie bieten umfassende elektrische Prüfverfahren:
- In-Circuit-Tests
- Funktionstests
- Open/Short-Erkennung
Temperatursensoren ermöglichen die Analyse temperaturabhängiger Komponenten. Ergänzt wird dies durch hochauflösende Messtechnik, programmierbare Spannungsquellen und einen AC-Generator für komplexe Prüfabläufe.
Integration in moderne Fertigungsumgebungen
Die Flying Probe Tester lassen sich nahtlos in Industrie-4.0-Prozesse integrieren. Unterstützt werden Standards wie SMEMA, IPC-HERMES-9852 und OPC UA. Ein automatisches Reinigungssystem hält die Nadeln frei von Verunreinigungen und gewährleistet stabile Prüfergebnisse. Die benutzerfreundliche Software erlaubt eine unkomplizierte Prüfprogrammerstellung auf Basis gängiger CAD-Formate wie ODB++.
Die TAKAYA APT-Serie ist für den Dauerbetrieb ausgelegt und bietet eine z-Achsen-Beschleunigung von bis zu 50 G. Sie verbindet höchste mechanische Präzision mit energieeffizientem Betrieb. Durch die flexible Bauweise und die hohe Prüfgenauigkeit tragen die Systeme maßgeblich zur Senkung der Testkosten vom Prototyp bis zur Massenproduktion bei, bei gleichzeitiger Verbesserung der Produktqualität und -zuverlässigkeit.
Mit den Serien APT-2400F und APT-2600FD positioniert sich SYSTECH Europe als verlässlicher Technologiepartner für automatisierte Testlösungen in der europäischen Elektronikfertigung. Fachbesucher können sich auf der productronica 2025 in Halle A1, Stand A1.239, detaillierte Einblicke in beide Systeme verschaffen.
Flying Probe Tester für höchste Anforderungen
Mit der APT-Serie bringt TAKAYA eine neue Generation von Flying Probe Testern auf den Markt, die speziell für die Anforderungen moderner Elektronikfertigung entwickelt wurde. In Kombination mit der Expertise von SYSTECH Europe entstehen leistungsfähige Lösungen für präzise, effiziente und wirtschaftliche Prüfprozesse.
Mehr Informationen zu den TAKAYA Flying Probe Testern finden Sie hier: https://www.systech-europe.de/products/flying-probe-tester
