TAKAYA
FLYING PROBE TESTER
APT-2600FD
Durch die gleichzeitige Kontaktierung der Baugruppen von Ober- und Unterseite erreichen wir maximale Flexibilität und eine unschlagbare Testgeschwindigkeit.
Innovation trifft Erfahrung
Führend in der Flying Probe Technologie
Die Testsysteme der APT-Serie dienen der Erkennung von Produktionsfehlern auf bestückten Leiterplatten. Der Test erfolgt mit sehr schnellen, sich unabhängig voneinander bewegenden Prüfnadeln, sodass ein herkömmlicher Nadelbettadapter nicht mehr erforderlich ist.
Den Grundstein für das Konzept des Flying Probe Testers, welcher die Vorteile fortschrittlicher elektrischer Prüfmethoden und einer hochgenauen Mechanik in sich vereinigt, legte im Jahr 1987 das japanische Unternehmen Takaya. Seitdem ist Takaya nicht nur führend, sondern auch unser exklusiver Partner auf dem Gebiet der Flying Probe Technologie.
UNSERE PRODUKTE
TAKAYA Flying Probe Tester - die all-in-one Testlösung für Ihre Anforderungen
01/
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APT-2600FD-SL
Mit der APT-2600FD-SL lassen sich Baugruppen gleichzeitig von Ober- und Unterseite kontaktieren – bei einem beeindruckend großen Testbereich von 635 mm × 610 mm.
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APT-2400F
Die APT-2400F ist ein einseitiges Testsystem. Es kontaktiert extrem kleine Pads von bis zu 50µm auf kleinsten Leiterplatten präzise und führt Tests in einer atemberaubenden Geschwindigkeit durch.
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APT-2400F-SL
Die APT-2400F-SL ermöglicht die einseitige Prüfung von großformatigen Baugruppen, wie z.B. Spannungsversorgungen, Backplanes und Serverboards.
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APT-1600FD
Das doppelseitige Testsystem mit 6 Proben von der Oberseite und bis zu 4 Proben von der Unterseite der Baugruppe.
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APT-1600FD-SL
Die APT-1600FD-SL ist ebenfalls ein doppelseitiges Testsystem, aber speziell für grosse Baugruppen entwickelt.
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APT-1400F
Die APT-1400F ist das Standardmodell der APT Serie. Vielseitig, flexibel und extrem schnell.
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APT-1400F-SL
Die APT-1400F-SL ist speziell für den Test von grossen Baugruppen entwickelt worden.
Flying Probe Tester
Die TAKAYA APT-Serie umfasst Testsysteme für die Erkennung von Produktionsfehlern auf bestückten Leiterplatten mit sehr schnellen, sich unabhängig voneinander bewegenden Prüfnadeln, so dass ein herkömmlicher Nadelbettadapter nicht mehr erforderlich ist. Bereits 1987 entwickelte TAKAYA das Konzept des Flying Probe Testers, welcher die Vorteile fortschrittlicher elektrischer Prüfmethoden und einer hochgenauen Mechanik in sich vereinigte. Seit dieser Zeit ist TAKAYA führend auf dem Gebiet der Flying Probe Technologie. Die Forschungs- und Entwicklungskapazitäten sind auf die schnelle Markteinführung von Produktinnovationen konzentriert, um unmittelbar auf die sich rasch ändernden technischen Anforderungen und Bedürfnisse der Kunden in den unterschiedlichsten Bereichen der Elektronikindustrie reagieren zu können. Die Flying Prober der Firma TAKAYA vereinen das Wissen und die Jahrzehnte lange Erfahrung auf den Gebieten der Ansteuerung und Positionierung der Prüfnadeln und der Messtechnik. Die zeichnen sich, neben der höchsten Positioniergenauigkeit und Testgeschwindigkeit, auch durch eine hervorragende Testabdeckung aus. Hierbei kommen nicht nur umfangreiche elektrische Tests zum Einsatz, sondern auch eine Vielzahl von optischen Prüfungen ergänzen das Prüfergebnis.
Reduzierung der Testkosten
Beim In-Circuit Test werden im Allgemeinen Nadelbettadapter zum Testen von bestückten Baugruppen eingesetzt. Gewöhnlich dauert die Herstellung von diesen Adaptern mindestens eine, wenn nicht gar mehrere Wochen. Neben der langen Herstellungszeit spielen auch die hohen Kosten eine maßgebende Rolle.
Gerade in Produktionen mit einer hohen Typenvielfalt können sich Nadelbettadapter bei der Herstellung, Lagerung und Pflege schnell zu Kostentreibern entwickeln. Oft benötigt der Kunde auch einen elektrischen Test im frühen Stadium der Entwicklung einer Baugruppe. Gerade bei Prototypen und bei der Einführung von neuen Produkten sind Nadelbettadapter oft nicht zielführend. Bei Änderungen und Anpassungen im Design, müssen die Adapter oft modifiziert werden.
Dieses ist nicht nur mit weiteren Kosten verbunden, sondern auch mit einer Verzögerung im Fertigungsprozess. Wertvolle Zeit, die bei der „Time to Market“ verloren geht. Die Flying Probe Systeme der APT-Serie sind mit zwei, vier bzw. sechs Prüfnadeln ausgestattet, welche mit einer hohen Geschwindigkeit unabhängig voneinander verfahren werden können. Die herkömmlichen starren Nadelbettadapter sind nicht mehr erforderlich.
Durch die Testprogrammerstellung aus den CAD Daten ist eine wirtschaftliche Prüfung ab der ersten Baugruppe möglich. Änderungen im Layout der Baugruppe werden ohne Zeitverzögerung direkt über die CAD Daten oder am Testsystem durchgeführt. Die Positionen der Prüfnadeln im Testprogramm werden einfach korrigiert. Das ist einer der maßgeblichen Vorteile beim Einsatz der Tester aus der APT-Serie.
Optische Analyse inklusive
Die APT-Systeme verfügen über ein leistungsfähiges Erkennungssystem zur zuverlässigen und genauen, automatischen optischen Prüfung.
Das optische System erfasst fehlende, versetzte oder verpolte Bauelemente und erhöht damit die Testabdeckung bei den Bauteilen, die durch einen elektrischen Test nicht getestet werden können.
Zusätzlich erfasst die Kamera auch 1D und 2D Barcodes und fügt diese den Testprotokollen bei. Eine lückenlose Erfassung und Zuordnung der Resultate ist damit immer gewährleistet.
Genauer & sanfter Kontakt
Kontaktpunkte mit einer Größe von 50µm können mit den vier bzw. sechs Flying Probes exakt angefahren und kontaktiert werden.
Damit wird der „Design for Test“-Aufwand verringert und eine Prüfung von komplexen SMD Baugruppen ist auch ohne Testpunkte möglich.
Die Soft Touch Steuerung der Z-Achsen setzt dabei die Proben sanft und schonend auf den Kontaktflächen auf, ohne dass die Testgeschwindigkeit dabei maßgeblich beeinflusst wird.
Umfangreiche Tests
Neben einer hochgenaue Messeinrichtung für analoge und digitale Bauelemente stehen 4-Quadranten Spannungsversorgungen, Sinus- und Rechteck- Generatoren, Frequenzzähler, LED Sensoren, etc. zur Verfügung.
Mit diesem breiten Spektrum an Testmöglichkeiten kann eine große Anzahl unterschiedlicher Komponenten schnell und genau gemessen werden.
IC-Open Checker
Die Option des IC-Open-Testsystems ermöglicht die Prüfung von IC-Kontakten in Bus-Strukturen.
Die Messungen der internen Schutzdioden im IC wird durch eine spezielle Sensortechnik unterstützt, mit der auch fehlerhafte Lötverbindungen auf QFPs und SOPs und auf den meisten BGAs entdeckt werden können.
Externe Kommunikation
Die Testsysteme der APT-Serie sind mit Schnittstellen für die Kommunikation mit externen Mess- und Prüfsystemen ausgestattet.
Ob Boundary-Scan, Frequenzmessungen, In-System-Programmierung oder externe Funktionstests – die offene Plattform ermöglicht eine einfache und flexible Anbindung externer Prüfsysteme.
Zusätzlich können externe programmierbare DC-Strom- und Spannungsversorgungen in den Prüfprozess eingebunden werden. „Plug and Play“ Lösungen stehen hier zur Verfügung.
Einfache & anwenderfreundliche Software
Intelligente und kundenorientierte Softwarewerkzeuge ermöglichen von der Programmerstellung bis hin zur Fehleranalyse eine bedienerfreundliche Handhabung der Systeme.
Vielseitige Hilfswerkzeuge für die Programmierung unterstützen die automatische Bestimmung von Referenzwerten, Guardpunkten und Messbedingungen. Zusätzlich stehen zahlreiche Fehlersuch- und Analyseprogramme zur schnellen Bearbeitung der Prüfprogramme zur Verfügung.
Die Testprogramme können im „Teach In“ Verfahren oder aber aus den CAD Daten erstellt werden. Hier steht die TAKAYA Merlin Pro Software zur Verfügung, welche über 40 verschiedene CAD Systeme unterstützt.
Qualität & Zuverlässigkeit
Einer der wichtigsten Komponenten der Flying Probe Systeme ist die Messeinrichtung, aber genauso entscheidend ist der mechanische Aufbau des Systems. Gehen Sie hierbei keine Kompromisse ein!
Basierend auf der jahrelangen Erfahrung in der Entwicklung von Flying Probe Testsystemen wissen wir, dass die wichtigsten Komponenten für die Positioniergenauigkeit der Prüfnadeln die Auswahl der mechanischen Komponenten und der XY-Tisch des Systems sind. Selbst wenn die einzelnen, genauigkeitsbestimmenden Baugruppen wie Motor, Schlittenführungen, usw. eine ausgezeichnete Qualität und Leistung aufweisen, sind es immer wieder die XY-Tische, die sich mit der Zeit verformen, was zwangsläufig zu Ungenauigkeiten bei der Kontaktierung führt.
Deshalb bestehen die XY-Tische der TAKAYA Flying Probe Testsysteme aus feinpoliertem natürlichem Granit, deren Genauigkeit und Stabilität selbst nach Jahren ständigen Einsatzes unverändert bleibt. Die Testsysteme der APT-Serie widerstehen selbst extremen Produktionsbedingungen. Der zuverlässige Kontakt der Proben ist selbst über einen langen Zeitraum gewährleistet.
Inline-Anwendungen
Alle APT-Systeme sind natürlich auch als In-Line Variante verfügbar.
Ausgestattet mit einem Transportsystem mit einer automatischen Breitenverstellung können die Flying Probe Tester für den vollautomatischen Betrieb in einer Fertigungslinie oder im Magazin zu Magazin Betrieb eingesetzt werden.
Warum TAKAYA FLYING PROBE TESTER?
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KNOW-HOW 
Jahrzehntelange Erfahrung
Bereits im Jahre 1987 stellte TAKAYA das weltweit erste Flying Probe Testsystem vor, eine Innovation, die nachhaltig die Prüfstrategien in fast allen Bereichen der Elektronikindustrie verändert hat. Zum ersten Mal war es möglich bei Serien mit kleinen und mittleren Stückzahlen hohe Kostensenkungspotenziale zu erzielen und selbst Prototypen wirtschaftlich zu testen. Wie kein anderer hat es TAKAYA verstanden, eine präzise Mechanik und eine hochgenaue Messeinrichtung miteinander zu kombinieren.
(02)
INNOVATIONEN
Kontinuierliche Entwicklung
TAKAYA entwickelte die Flying Probe Systeme über die Jahre konsequent weiter und fertigt heute Systeme, die im Bereich der Testabdeckung und der Testgeschwindigkeit den Anwendern ungeahnte Möglichkeiten bieten. Bei der Entwicklung stehen Qualität, Innovationen und die Flexibilität der Systeme immer im Vordergrund.
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ZUVERLÄSSIGKEIT
Höchste Qualitätsstandards00
Unsere Systeme werden unter hohen Qualitätsstandards exklusiv zu 100% in Japan gefertigt. Die Antriebstechnik , die mechanische Konstruktion der Achsen und des XY-Tisches sind bei den TAKAYA Flying Probe Systemen perfekt aufeinander abgestimmt. Das Design kennt keine Kompromisse zwischen Geschwindigkeit, Genauigkeit und Langzeitstabilität. Die daraus resultierende Zuverlässigkeit wird von unseren Kunden in allen Bereichen der Elektronikindustrie geschätzt.
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VERTRAUEN
Grosse Installationsbasis
Wir sind stolz auf die Tatsache, dass uns so viele Kunden ihr Vertrauen geschenkt haben und dieses auch über Generationen von Flying Probe Test Systemen hinweg. Mit mehr als 2800 Systeminstallationen ist TAKAYA führend auf dem Gebiet der Flying Probe Technologie. Alleine von den 20 weltweit größten EMS-Dienstleistern setzen 80% TAKAYA Flying Probe Systeme ein. Der Spezialist für die Prüfung komplexer Baugruppen versteht sich als Partner der Kunden in der Elektronikindustrie.
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