Die SYSTECH Europe präsentiert eine neue Generation leistungsstarker Flying Probe Tester von TAKAYA. Mit den Modellen APT-2400F und APT-2600FD werden moderne Anforderungen der Elektronikfertigung gezielt adressiert, insbesondere bei hochkomplexen und miniaturisierten Baugruppen.
Die neuen Flying Probe Tester von TAKAYA basieren auf einem mechanischen Konzept mit sechs Achsen und bis zu zehn Prüfnadeln. Vier vertikal angeordnete Nadeln ermöglichen den Zugriff auf schwer erreichbare Kontaktpunkte, etwa zwischen dicht bestückten Komponenten oder an Steckverbindern.
Diese Bauweise erhöht die Testabdeckung deutlich und verbessert die Qualitätssicherung komplexer Leiterplatten.
TAKAYA APT-2400F
Der TAKAYA APT-2400F Flying Probe Tester ist für einseitige Prüfprozesse ausgelegt und arbeitet mit vier Achsen sowie sechs Prüfnadeln. Mit einer minimalen Kontaktfläche von nur 50 µm lassen sich auch hochdichte HDI-Leiterplatten zuverlässig prüfen.
TAKAYA APT-2600FD
Für komplexere Prüfanforderungen bieten die Systeme, insbesondere der beidseitige Tester APT-2600FD, erweiterte Funktionen. Das Multiprobe System erlaubt den gleichzeitigen Kontakt mit mehreren Prüfpunkten auf der Unterseite und unterstützt damit die Integration von In-System Programming (ISP). Ein Laser misst die Oberflächenhöhe von Leiterplatten und Bauteilen, erleichtert die Erkennung von Defekten wie angehobenen Bauteilen, und das System passt Koordinaten automatisch an Leiterplattenverformungen an, um Prüfstabilität trotz mechanischer Toleranzen sicherzustellen.
Die beidseitige Prüfung spart Zeit, da der Wendevorgang entfällt, erweitert die Testabdeckung und erhöht die Prüftiefe.
Die neuen Systeme sind mit der „Zero-Impact Probe Control“ ausgestattet. Diese Steuerung reduziert die Geschwindigkeit der Prüfnadeln unmittelbar vor dem Kontakt auf Null und ermöglicht so eine Kontaktierung ausschließlich über den Federdruck der Messnadeln. Dadurch wird eine besonders schonende und präzise Prüfung selbst empfindlichster Bauteile gewährleistet.
Das integrierte CMOS-Kamerasystem mit Flüssiglinse unterstützt Autofokus, 3D-Real-Map-Visualisierung sowie OCR. Eine separate Remote-Kamera überwacht die Prüfprozesse in der Fertigung und ermöglicht Remote-Debugging. Zum Testspektrum zählen optische Verfahren wie OCR, Barcode- und Bauteilerkennung sowie Polarisationsprüfung. Ein spezieller LED-Farbsensor analysiert zuverlässig Farbton, Sättigung und Leuchtdichte.
Temperatursensoren ermöglichen die Analyse temperaturabhängiger Komponenten. Ergänzt wird dies durch hochauflösende Messtechnik, programmierbare Spannungsquellen und einen AC-Generator für komplexe Prüfabläufe.
Die Flying Probe Tester lassen sich nahtlos in Industrie-4.0-Prozesse integrieren. Unterstützt werden Standards wie SMEMA, IPC-HERMES-9852 und OPC UA. Ein automatisches Reinigungssystem hält die Nadeln frei von Verunreinigungen und gewährleistet stabile Prüfergebnisse. Die benutzerfreundliche Software erlaubt eine unkomplizierte Prüfprogrammerstellung auf Basis gängiger CAD-Formate wie ODB++.
Die TAKAYA APT-Serie ist für den Dauerbetrieb ausgelegt und bietet eine z-Achsen-Beschleunigung von bis zu 50 G. Sie verbindet höchste mechanische Präzision mit energieeffizientem Betrieb. Durch die flexible Bauweise und die hohe Prüfgenauigkeit tragen die Systeme maßgeblich zur Senkung der Testkosten vom Prototyp bis zur Massenproduktion bei, bei gleichzeitiger Verbesserung der Produktqualität und -zuverlässigkeit.
Mit den Serien APT-2400F und APT-2600FD positioniert sich SYSTECH Europe als verlässlicher Technologiepartner für automatisierte Testlösungen in der europäischen Elektronikfertigung. Fachbesucher können sich auf der productronica 2025 in Halle A1, Stand A1.239, detaillierte Einblicke in beide Systeme verschaffen.
Mit der APT-Serie bringt TAKAYA eine neue Generation von Flying Probe Testern auf den Markt, die speziell für die Anforderungen moderner Elektronikfertigung entwickelt wurde. In Kombination mit der Expertise von SYSTECH Europe entstehen leistungsfähige Lösungen für präzise, effiziente und wirtschaftliche Prüfprozesse.
Die APT-Serie arbeitet mit sechs Achsen und bis zu zehn Prüfnadeln. Dadurch lassen sich auch schwer erreichbare Prüfpunkte auf komplexen und dicht bestückten Leiterplatten präzise kontaktieren.
Der APT-2400F ist für die einseitige Prüfung hochdichter Leiterplatten ausgelegt. Mit einer minimalen Kontaktfläche von 50 µm eignet er sich besonders für HDI-Leiterplatten und miniaturisierte Baugruppen.
Der APT-2600FD prüft Leiterplatten beidseitig und macht einen separaten Wendevorgang überflüssig. Das erhöht die Testabdeckung und ermöglicht zusätzliche Anwendungen wie In-System Programming.
Die Flying Probe Tester unterstützen In-Circuit-Tests, Funktionstests sowie Open- und Short-Prüfungen. Ergänzend sind optische Kontrollen wie OCR, Barcodeerkennung, Polaritätsprüfung und LED-Farbanalyse möglich.
